新一代LVEM 25E低電壓電子顯微鏡
具有能量色散光譜（EDS）功能
All In One:
具有TEM, STEM, SEM, EDS和ED 模式
操作簡單
換樣快捷，換樣僅需2 min
無需冷卻水
無需專業實驗室
維護成本超低
新一代低電壓電子顯微鏡LVEM 25E
LVEM 25E
近期，Delong公司研發推出了新一代LVEM 25E低電壓電子顯微鏡，該設備配備了TEM、STEM、SEM、EDS和ED五種成像和分析模式，將材料表征研究推向新的高度。超快的樣品切換和增強的自動化功能使LVEM 25E成為常規成像應用中實用且易用的工具。LVEM 25E能從標準制備的樣品中獲得對比度好、細節豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細節水平的圖像。
LVEM 25E不僅可以測量內部和外部結構，還可以分析樣品的化學成分，所有這些功能均在一臺設備上完成。先進的軟件設計，可自動設置鏡筒對中光闌位置來協助用戶分析樣品。
一臺儀器有五種成像模式
? 配備TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式
? 通過直觀的軟件輕松切換成像模式
? TEM和STEM模式下的明場和暗場測量
? SEM模式（BSE）用于表面測量
? 能量色散光譜（EDS）用于元素分析
? 電子衍射（ED）用于了解晶體結構
完全集成和緊湊的設計
? 設計緊湊、節省空間
? 幾乎可以在任何實驗室環境中進行單插頭安裝
? 沒有特殊的設施要求（不需要冷卻、電源或防震隔離）。
對標準樣品的高對比度和分辨率
? 對生物和輕型材料樣品具有超好的對比度
? 無需染色
? 圖像分辨率高達 1.0 nm
? 專為傳統制備的樣品設計
? 超快的樣品切換
一體化設計--緊湊、輕便 完全獨立的設計使安裝地點的選擇沒有限制，真正實現了電子顯微鏡的輕松搬遷。 | |
無特殊設施--安裝無憂 LVEM 25E可以輕松地安裝在大多數實驗室，而不需要對電氣或管道進行特殊考慮。只需將其插入一個標準的電源插座即能投入使用。 | |
永磁透鏡 - 無需冷卻 獨特的LVEM平臺采用了永磁透鏡，使設備緊湊、堅固、易于使用，同時不需要任何冷卻。 | |
快速且容易的真空恢復 - 自動軟烘烤和噴槍調節 如果出現真空損失，LVEM 25E可減少停機時間。具有自動軟烘烤和噴槍調節功能，恢復真空的速度很快，而且不需要去維修。 | |
直接光束測量--低劑量定量 該功能可使用戶測量樣品的輻照度。 | |
自動對準，兩級放大 -優異的成像條件 通過軟件自動調整和控制LVEM 25E的鏡筒對中光闌位置，操作者不需要手動校正。這意味著LVEM 25E總是準備好以優異的性能進行成像，并允許在不同的模式之間快速、輕松地切換。 | |
快速的樣品切換 - 高通量成像 真空系統采用一個集成的、免維護的渦輪分子泵，結合無振動的離子泵設計而成，可以實現超快的樣品切換，產生一個超高真空的成像環境，免受污染。 | |
場發射電子槍 – 超高的對比度 25kV的肖特基型場發射電子槍具有非常高的亮度和空間一致性，允許發射的電子和樣品之間有很強的相互作用。這也是LVEM 25E具有獨特的高對比度的原因。 |
測試數據展示：
LVEM 25E配備了TEM、STEM、SEM、ED和ED模式，為用戶提供了獨特的選擇。用戶可通過LVEM軟件在各種成像模式之間輕松切換，從一個樣品中獲得多種數據結果。
| TEM | STEM | Dark Feild |
| 25 kV TEM模式下提供了高幀率成像，以實現良好對比的尺寸、形狀和結構測量。 | 在較低的加速電壓下，10 kV和15 kV STEM模式的成像提供了更高的對比度，并允許分析更厚的樣品。 | TEM和STEM暗場模式（HAADF）都能使樣品在具有挑戰性的背景、晶面、位錯、DNA等方面更容易成像。 |
| SEM | ED | EDS |
| SEM模式（BSE）提供對樣品表面的分析，以了解表面形狀和紋理。 | 電子衍射可以對晶體材料進行結構表征。 | EDS模式允許分析樣品的化學成分，并創建元素成分圖，可與STEM和SEM數據疊加。 |
相關產品：
1、新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E
